[发明专利]液晶显示面板的暗态电压调试方法、装置以及存储介质有效
| 申请号： | 202010549367.4 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN111739452B | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | 海博 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 何辉 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开一种液晶显示面板的暗态电压调试方法、装置以及存储介质，所述方法包括：获取多个初始暗态电压差值；基于所述多个初始暗态电压差值，得到每一所述初始暗态电压差值对应的对比度值；获取所述多个初始暗态电压差值中的基准暗态电压差值，并基于所述基准暗态电压差值，得到每一所述初始暗态电压差值对应的对比度变化量；根据每一所述初始暗态电压差值对应的对比度变化量，确定所述液晶显示面板的暗态电压差值。该方案规范了液晶显示面板的暗态电压差值，提高了液晶显示面板的对比度。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示 面板 电压 调试 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，未经深圳市华星光电半导体显示技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010549367.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
