[发明专利]存储器装置、操作存储器装置的方法和存储器模块在审
申请号: | 202010553470.6 | 申请日: | 2020-06-17 |
公开(公告)号: | CN112447251A | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 安泳万;李相烈;李宗键 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12;G11C29/44 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 王兆赓;刘灿强 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了存储器装置、操作存储器装置的方法和存储器模块。所述存储器装置包括:内置自测试(BIST)单元,用于在上电序列期间测试存储器单元阵列。BIST单元响应于电源稳定信号对存储器单元阵列执行测试,或者响应于阻抗控制(ZQ)校准命令,对存储器单元阵列执行测试。BIST单元响应于写入均衡命令终止正在被执行的测试,或者响应于激活命令终止正在被执行的测试。 | ||
搜索关键词: | 存储器 装置 操作 方法 模块 | ||
【主权项】:
暂无信息
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