[发明专利]一种厚膜材料介电常数的测量方法

摘要

本发明涉及一种厚膜材料介电常数的测量方法，所述测量方法包括：测量未加待测材料时测量夹具的输入反射系数的值；测量加入待测材料时测量夹具的输入反射系数S11的值；根据所述输入反射系数和所述输入反射系数S11的值计算得到待测材料介电常数的实部值和虚部值，进而得到待测材料的介电常数。本发明的优点在于：通过设计定制的测量夹具进行测量，测试效率快、准确率高；且可以直接对材料进行介电常数测试，避免了对材料的破坏，打破了测量时待测材料需要压制圆片的局限，且测量频率范围为0.5‑3GHz，提高了测量频率，使厚膜介电常数的测量更加方便。