[发明专利]测试结果展示方法、装置及电子设备、存储介质有效
| 申请号： | 202010560391.8 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111751705B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 余建武 | 申请（专利权）人： | 捷普电子（广州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 南霆 |
| 地址： | 510530 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试结果展示方法、装置及电子设备、存储介质，属于设备测试领域。该测试结果展示方法通过识别每个PCB板上的各电子元件的性能参数是否存在异常；对各出现异常的电子元件的异常数量分别进行统计，并根据统计数据生成表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息；将表征各出现异常的电子元件的异常严重程度的信息渲染至显示界面的第一显示区域展示，以及在显示界面的第二显示区域展示各出现异常的电子元件的异常排除参照信息，可以大大减少后续测试过程中出现异常的电子元件的数量，减少了重复测试的次数，节省了人力成本、时间成本及设备成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结果 展示 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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