[发明专利]标准单元库设计检查方法和系统以及可读存储介质有效
| 申请号： | 202010561005.7 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN111709213B | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 魏聪;高兰;温建新 | 申请（专利权）人： | 成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392;G06F30/398 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 610041 四川省成都市中国（四川）自由贸易*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种标准单元库设计检查方法和系统以及可读存储介质，通过设定验证条件，利用随机选取的方式选取标准单元库中的标准单元，并在版图上按照随机拼接的方式拼接放置标准单元，直至满足验证条件，最后对形成的标准单元库随机拼接版图进行设计检查。利用所述标准单元库设计检查方法可在标准单元版图的设计阶段完成高覆盖率规则检查，减少标准单元库建立过程中的反复工作，由于具有全随机性，因此本申请的技术方案覆盖率比现有技术的方案高，可有效降低后期使用标准单元库进行拼接时出现问题的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 标准 单元 设计 检查 方法 系统 以及 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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