[发明专利]一种光学元件非线性效应I*L值的测试方法及装置有效
| 申请号： | 202010563416.X | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111579221B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 单翀;赵晓晖;高妍琦;崔勇;季来林;李小莉;饶大幸;刘栋;夏兰;郑权;赵元安;刘晓凤;朱翔宇 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海智力专利商标事务所(普通合伙) 31105 | 代理人： | 杜冰云;周涛 |
| 地址： | 201899 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学元件非线性效应I*L值的测试方法及装置，所述方法通过利用焦距小于光学元件厚度的透镜并通过调整光学元件的位置的方法将激光束聚焦在光学元件体内，同时将激光辐照在待测光学元件入射面的激光能量密度调整至小于待测光学元件入射面的激光损伤阈值，模拟出了非聚焦条件下的扰动诱导小尺度自聚焦效应，解决了传统测试方法中由于光学元件入射面损伤先于体内自聚焦成丝损伤发生，因而由光学元件入射面损伤带来的散射、缺陷吸收等激光损耗的问题，不仅提高了测试精度，也为光学元件在高功率激光装置中的安全使用以及提高材料的抗激光损伤能力提供更多的帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 非线性 效应 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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