[发明专利]具有改善栅极漏电流的半导体器件在审

专利信息
申请号: 202010564680.5 申请日: 2020-06-19
公开(公告)号: CN111682066A 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 廖航;赵起越;李长安;王超;周春华;黄敬源 申请(专利权)人: 英诺赛科(珠海)科技有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/47;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王允方
地址: 519085 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明是关于一种具有改善栅极漏电流的半导体器件,其包含:衬底;第一氮化物半导体层,位于衬底上方;第二氮化物半导体层,位于第一氮化物半导体层上方且具有大于第一氮化物半导体者的能隙;及源极接触及漏极接触,位于第二氮化物半导体层上方;经掺杂第三氮化物半导体层,位于第二氮化物半导体层上方及漏极接触和源极接触之间;及栅电极,位于经掺杂第三氮化物半导体层上方;其中在大体上平行于第一氮化物半导体层及第二氮化物半导体层界面的方向上,经掺杂第三氮化物半导体层具有至少一个沿该方向延伸的突出部,从而达成改善栅极漏电流现象的效果。
搜索关键词: 具有 改善 栅极 漏电 半导体器件
【主权项】:
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