[发明专利]测试电路、测试方法和显示装置在审
| 申请号： | 202010567612.4 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111599297A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 马涌;张浩;田文红;薛子姣;王晓静;徐帅帅;韩楠;黄新杰 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;陈丽宁 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路、测试方法和显示装置。测试电路包括第一测试子电路和第二测试子电路；第一测试子电路包括第一测试电极和多个第一测试单元电路，第二测试子电路包括第二测试电极和多个第二测试单元电路；第n个第一测试单元电路包括第2n‑1个第一测试控制单元和第2n个第一测试控制单元；第n个第二测试单元电路包括第2n‑1个第二测试控制单元和第2n个第二测试控制单元；n为正整数，2n+2小于或等于所述显示面板包括的栅极的总行数。本发明解决现有的测试方法需要开盒而导致的电学信号分析困难的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
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