[发明专利]一种基于离子峰谱线的FAIMS图谱特征提取方法有效

专利信息
申请号: 202010573964.0 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111638264B 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 席广永;胡东华;王旭;潘化冰;郭倩倩;孙彤 申请(专利权)人: 郑州轻工业大学
主分类号: G01N27/622 分类号: G01N27/622
代理公司: 郑州睿途知识产权代理事务所(普通合伙) 41183 代理人: 李伊宁
地址: 450000 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种基于离子峰谱线的FAIMS图谱特征提取方法,依次包括以下步骤:A:对原始谱线进行噪声去除并得到去噪后谱线,规定原始谱线的左基线范围和右基线范围;B:计算左基线波动和右基线波动;C:确定有效离子峰;D:判断离子峰的类型;E:对不同类型的离子峰分别提取离子峰特征,离子峰特征包括离子峰值特征、离子峰位置特征、半峰宽特征、离子峰峰值与半峰宽的比值特征和峰面积特征。本发明能够准确找到每个有效离子峰的形状和区域,并提取关于离子峰的5种特征。
搜索关键词: 一种 基于 离子 峰谱线 faims 图谱 特征 提取 方法
【主权项】:
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