[发明专利]浅层横向高分辨率瑞雷波勘探方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010574067.1 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111856551A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 孙旭;张学强;王基文;江峻毅;杨庆义;刘浩;孙长帅;焦学文;任传建 申请(专利权)人: 山东电力工程咨询院有限公司
主分类号: G01V1/00 分类号: G01V1/00;G01V1/18;G01V1/30
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 董雪
地址: 250014 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种浅层横向高分辨率瑞雷波勘探方法及系统,包括:获取待测区域内的地震波数据;从所述的地震波数据中提取瑞雷波数据;采用相邻道相位差方法计算瑞雷波的频散曲线;基于得到的频散曲线,采用深度‑半波长转换原理得到瑞雷波相速度对应的深度剖面;根据地质任务对剖面进行解释,得到地基加固构件的质量以及地质异常体的强弱。本发明能够较为精确地对地基加固构件(如搅拌桩碎石桩、堤坝防渗墙等)进行质量检测或评价;也能够提高对地下小型地质异常体的横向分辨能力。
搜索关键词: 横向 高分辨率 雷波 勘探 方法 系统
【主权项】:
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