[发明专利]一种基于石墨烯量子点荧光探针阵列的金属离子检测方法在审
申请号: | 202010574358.0 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN111551532A | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
发明(设计)人: | 冀海伟;吴铭敏;王琦;刘金霞;周晓波;秦玉岭;吴丽 | 申请(专利权)人: | 南通大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;C09K11/65;C09K11/70;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 许洁 |
地址: | 226000*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于石墨烯量子点荧光探针阵列的金属离子检测方法。首先,用水热法制备石墨烯量子点,并以石墨烯量子点为原料进行石墨烯量子点的掺杂,依次制得氮掺杂的石墨烯量子点、磷掺杂的石墨烯量子点、硫掺杂的石墨烯量子点以及硼掺杂的石墨烯量子点;然后,用石墨烯量子点和掺杂的石墨烯量子点组成荧光探针阵列,记录各种金属离子引起的上述石墨烯量子点荧光强度的变化,用线性判别分析法来检测区分金属离子。本发明采用的传感器阵列制备方法简单,成本低,需要的样品量小;传感器阵列能达到100%的金属离子区分精确度;可以同时检测区分多种金属离子;检测周期短,可控性强;所用仪器简单,结果判定直观。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 石墨 量子 荧光 探针 阵列 金属 离子 检测 方法 | ||
【主权项】:
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