[发明专利]一种基于多频相移方案的发光表面微观三维测量方法在审
| 申请号： | 202010577091.0 | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN111473745A | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 左超;张晓磊;沈德同 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京翔瓯知识产权代理有限公司 11480 | 代理人： | 向维登 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市建邺*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于多频相移技术的发光目标微观三维测量方法。本发明在没有饱和的情况下，使用标准相移算法来计算相位值；在饱和区域，使用广义相移算法来计算包裹相位；对于非饱和强度小于3的过饱和区域，利用低频条纹图像中可能提取的相位来填充最终相位图，以提高测量的完整性。经过相位展开和立体匹配后的双视远心测量系统，实现高精度的发光表面的三维重建。本发明从不受光强饱和影响的相移条纹图像的子集计算突出显示区域的相位，提出了一种多频相移方案来提高发光表面最终相位图的完整性，并在此基础上结合显微远心立体视觉系统，实现了完整、高精度的三维重建。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相移 方案 发光 表面 微观 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
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