[发明专利]非制冷红外探测器响应温漂信号的测试方法及测试电路在审

专利信息
申请号: 202010578410.X 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111780875A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 侯影;傅剑宇;周琼;刘超;冯万进;陈大鹏 申请(专利权)人: 无锡物联网创新中心有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/08;G01J5/20
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;陈丽丽
地址: 214135 江苏省无锡市新吴区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及非制冷红外探测器的测试技术领域,具体公开了一种非制冷红外探测器响应温漂信号的测试方法,其中,包括:将工作电流为I0的非制冷红外探测器置于环境温度为T0的真空环境中;在自热功率Pn计算非制冷红外探测器的表面温度Tn;将温度为Tbn的标准黑体源辐照非制冷红外探测器,并记录非制冷红外探测器在恒流源偏置电流In下对标准黑体源的响应信号ΔVTn_In_Tbn;计算非制冷红外探测器在恒流源偏置电流为I0时的响应温漂信号ΔVTn_I0_Tbn。本发明还公开了一种应用于非制冷红外探测器响应温漂信号的测试方法中的测试电路。本发明提供的非制冷红外探测器响应温漂信号的测试方法所需测试设备简单、易操作,具备时效性高的优势。
搜索关键词: 制冷 红外探测器 响应 信号 测试 方法 电路
【主权项】:
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