[发明专利]一种电路长期时序可靠性分析方法及系统在审
| 申请号： | 202010583392.4 | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN111737939A | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F30/3312 | 分类号： | G06F30/3312;G06F119/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种电路长期时序可靠性分析方法及系统，方法包括：S1，建立电路单元的特征化时序数据与有效受压工作时间的对应关系；S2，建立有效受压工作时间与上层电路工作时间之间的对应关系；S3，建立以上层电路工作时间为变量的电路时序可靠性关系式；S4，根据电路时序可靠性关系式获取上层电路工作时间的最大值。在对电路进行长期时序可靠性分析过程中，考虑了电路中各电路单元的老化状态，使得电路单元特征化数据更加精确丰富，更加精准的表征老化过程中电路单元的特征，使得电路长期时序可靠性分析更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 长期 时序 可靠性分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010583392.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
