[发明专利]MOSFET导通电阻的检测电路和方法、芯片及电池管理系统有效

专利信息
申请号: 202010587115.0 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN111766495B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 周号 申请(专利权)人: 珠海迈巨微电子有限责任公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R27/02;H02J7/00;H01M10/42
代理公司: 北京庚致知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11807 代理人: 李伟波;韩德凯
地址: 519000 广东省珠海市高新区唐家*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开提供了一种MOSFET导通电阻的检测电路,包括:被测MOSFET,被测MOSFET的一端连接至电池/电池组的正端或负端;以及串联电路,串联电路为基准电阻与控制MOSFET的串联电路,其中串联电路的一端与被测MOSFET的另一端连接,并且串联电路的另一端与电池/电池组的负端或正端,其中,被测MOSFET导通并且控制MOSFET导通时,电池/电池组、被测MOSFET、基准电阻、控制MOSFET形成检测回路,在检测回路中,通过测得的电池/电池组的电压、被测MOSFET和/或控制MOSFET的测得的源漏电压差值、以及基准电阻的电阻值来得到被测MOSFET的导通电阻。本公开还提供了一种MOSFET导通电阻的检测方法、芯片及电池管理系统。
搜索关键词: mosfet 通电 检测 电路 方法 芯片 电池 管理 系统
【主权项】:
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