[发明专利]一种动态校准过程中相位差的校准方法有效
申请号: | 202010588453.6 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN111580033B | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
发明(设计)人: | 张力;彭军;田峰;李娜娜;黄敬尧 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100095*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开的一种动态校准过程中相位差的校准方法,属于计量校准领域。本发明实现方法为:信号发生器产生的频率和电压控制驱动标准信号激励源;进行信号发生器的与标准测量系统与被校测量系统的连接;进行信号发生器的设定;进行标准测量系统与被校测量系统的信号采集与处理,进行幅值灵敏度和相位差的测算,实现动态校准过程中相频特性的校准。本发明根据动态校准需求和校准工况,选择信号发生器通道数及对应信号发生器与标准测量系统、被校测量系统的连接方式,实现对应信号发生、激励、数据采集与处理方式,所述实现对应信号发生、激励、数据采集与处理方式具有三种方式,具有可选方式多,便于实现的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 动态 校准 过程 相位差 方法 | ||
【主权项】:
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