[发明专利]芯片与芯片测试系统

摘要

本发明公开了芯片与芯片测试系统；芯片包括连接端、寄存器和功能结构；寄存器用于存储指令集，指令集包括至少一组测试指令集及其测试序号，每组测试指令集匹配其测试序号；连接端用于接受外部的测试信号，测试信号具有测试序号；寄存器还用于根据测试信号输出至少一组测试指令集；功能结构用于根据至少一组测试指令集进行测试，得到测试结果并输出。本发明尽可能地简化了芯片相关于测试的结构，巧妙利用了许多芯片都有的连接端和寄存器，对寄存器进行了数据写入，把测试项预设在寄存器中，在测试时只要得到测试序号，就可以实现预分组的测试指令集自动测试项目，简化了测试信号，加快了其解析，降低了测试风险，特别适合批量芯片测试。