[发明专利]一种具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010592249.1 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN111755538B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 王书荣;杨帅;徐信;李新毓;李祥;王亭保 申请(专利权)人: 云南师范大学
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 崔自京
地址: 650500 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明公开了一种具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备方法,具体包括以下步骤:(1)衬底预处理;(2)钼层和锗层的制备:在预处理后的所述衬底上依次沉积第一钼层、锗层、第二钼层;(3)铜锌锡硫预制层的制备;(4)铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备:将步骤(3)铜锌锡硫预制层制备完成后的所述衬底在210℃热处理30min,然后与硒粉放入硒化炉中,以20℃/min的升温速率从室温升温至550℃,并保温10~13min,自然冷却至室温后得到具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜;通过本发明的制备方法可以在背表面形成Ge的浓度梯度,形成一个电子的阻挡层,阻挡载流子在背表面界面处的复合,提高铜锌锡硒基薄膜的载流子收集效率,进一步提升薄膜的性能。
搜索关键词: 一种 具有 梯度 铜锌锡锗硒 吸收 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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