[发明专利]一种具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备方法有效
申请号: | 202010592249.1 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN111755538B | 公开(公告)日: | 2023-06-06 |
发明(设计)人: | 王书荣;杨帅;徐信;李新毓;李祥;王亭保 | 申请(专利权)人: | 云南师范大学 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 崔自京 |
地址: | 650500 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明公开了一种具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备方法,具体包括以下步骤:(1)衬底预处理;(2)钼层和锗层的制备:在预处理后的所述衬底上依次沉积第一钼层、锗层、第二钼层;(3)铜锌锡硫预制层的制备;(4)铜锌锡锗硒吸收层薄膜的制备:将步骤(3)铜锌锡硫预制层制备完成后的所述衬底在210℃热处理30min,然后与硒粉放入硒化炉中,以20℃/min的升温速率从室温升温至550℃,并保温10~13min,自然冷却至室温后得到具有锗梯度的铜锌锡锗硒吸收层薄膜;通过本发明的制备方法可以在背表面形成Ge的浓度梯度,形成一个电子的阻挡层,阻挡载流子在背表面界面处的复合,提高铜锌锡硒基薄膜的载流子收集效率,进一步提升薄膜的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 梯度 铜锌锡锗硒 吸收 薄膜 制备 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的