[发明专利]一种高光物体面型的非接触无损测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 202010595307.6 | 申请日： | 2020-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN111578864A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 陈利娟 | 申请（专利权）人： | 重庆市气象信息与技术保障中心 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 | 代理人： | 杨佳丽 |
| 地址： | 400000 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高光物体面型的非接触无损测量系统，它包括投影光源系统、偏振器、图像传感器、图像采集卡和电脑；所述偏振器包括起偏器P1和检偏器P2，其投影系统由投影光源系统和起偏器P1组成，其成像系统由图像传感器和检偏器P2组成；所述图像传感器是接收变形光栅像的面阵探测器；所述投射光源为强度按正弦分布的面阵自然光，条纹的栅线垂直于参考平面。本发明还公开了一种高光物体面型的非接触无损测量方法。本发明从傅里叶变换轮廓术中光场的偏振特性出发，利用光学器件偏振器的滤光作用，结合现有傅里叶变换轮廓术和Phong光照模型，提出了一种高光物体面型的测量系统及测量方法，理论分析与应用结果均证明了镜面反射光将影响调制光场正确的高度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物体 接触 无损 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
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