[发明专利]面向高频应用的双沟槽型SiC MOSFET结构及制造方法有效

专利信息
申请号: 202010598803.7 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111799322B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 岳瑞峰;杨同同;王燕 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/28;H01L21/336
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 白雪静
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种面向高频应用的双沟槽型SiC MOSFET结构及制造方法,其中,双沟槽型SiC MOSFET结构构建在N++型SiC衬底上的N型SiC外延层,包括:栅极沟槽、源极沟槽、N+源区、P型基区、P+屏蔽区、N型电流扩展区和N型外延层,其中,N+源区和P型基区由上至下排列,P+屏蔽区位于P型基区和源极沟槽的下方,N型电流扩展区位于P+屏蔽区的外侧,N型外延层位于栅极沟槽的槽底中间区域和N型电流扩展区的下方。该结构既有传统双沟槽型SiC MOSFET的优异静态品质因子,又能够明显降低开关损耗、提高短路耐受能力。
搜索关键词: 面向 高频 应用 沟槽 sic mosfet 结构 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010598803.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top