[发明专利]一种离子色谱检测高纯硫脲中痕量金属离子含量的方法在审
| 申请号： | 202010601986.3 | 申请日： | 2020-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN111537657A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 杨丽;董淑杰;赵红波;王岳华;吕印美;姜旻;董昭苹;刘艳霞;李霞;付鹿 | 申请（专利权）人： | 黄河三角洲京博化工研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06;G01N30/64;G01N30/96 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 赵斌;王增娣 |
| 地址： | 256500 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明属于化学分析技术领域，具体涉及一种离子色谱检测高纯硫脲中痕量金属离子含量的方法。采用离子色谱法对钠、铵、钾、镁、钙阳离子进行检测，利用五种阳离子标准样品制备标准工作溶液，根据据金属离子在阳离子系统的响应，使用金属离子标准样品的响应峰面积为纵坐标，以离子含量为横坐标建立标准曲线，通过样品中相应离子的响应峰面积，带入标准曲线中，计算出样品中的金属离子含量。该方法该方法操作简单，检测快捷，无需复杂前处理，检测过程无毒无害，准确率高，重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 色谱 检测 高纯 硫脲 痕量 金属 含量 方法 | ||
【主权项】：
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