[发明专利]一种胎圈内周长测量仪的校检方法在审

专利信息
申请号: 202010604118.0 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111811455A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 张毅;施亮;凡冲;夏登原 申请(专利权)人: 安徽佳通乘用子午线轮胎有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 张名列
地址: 230601 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种胎圈内周长测量仪的校检方法,包括以下步骤,标准环制作:根据塔盘的台阶数量及测量范围定制对应的标准环;基圆周长的设定值校准:将塔盘调整为基圆状态,使用π尺对塔盘各台阶的基圆周长进行测量并记录,对测量值与设定值的差值进行计算,对差值超过0.025mm的台阶进行修改;测量仪的校检:在基圆状态下,将标准环套在台阶上,启动测量仪,记录显示值;对各显示值与对应标准环的内周长的差值进行计算,对差值超过0.5mm的台阶进行修改。本发明使用标准环和π尺按一定步骤对轮胎胎圈内周长测量仪的显示值的精确性进行校检,具有校检精度高、易操作和成本较低的优势。
搜索关键词: 一种 圈内 周长 测量仪 方法
【主权项】:
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