[发明专利]能量刻度曲线获取方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202010604518.1 | 申请日： | 2020-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN111714147A | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 王旭明 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 陈涵 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种能量刻度曲线获取方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，该能量刻度曲线获取方法包括：获取探测器接收到的来自于探测器晶体自身辐射粒子的本底事件；对所述本底事件进行甄别，得到多个ADC值以及对应的核素的伽玛衰变特征能峰值；根据多个所述ADC值以及对应的核素的伽玛衰变特征能峰值，得到能量刻度曲线。通过探测器晶体的本底固有放射现象，避免了使用放射源，减少了医师受到辐射的剂量，减少了医院的使用成本，并且相对于有源检测，其操作简单，可以在任何时期获取能量刻度曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 能量 刻度 曲线 获取 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技有限公司，未经上海联影医疗科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010604518.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种数据处理方法、数据处理装置及终端
- 下一篇：晶圆承载装置及半导体工艺设备
