[发明专利]OFDM通信体制双向高精度测距系统在审
申请号: | 202010609940.6 | 申请日: | 2020-06-29 |
公开(公告)号: | CN111884972A | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 严平;刘田;张毅;余湋;袁田 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | H04L27/26 | 分类号: | H04L27/26;G01S11/08 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种OFDM通信体制双向高精度测距系统,属于测控通信领域,包括:需要进行双向距离测量的节点A和节点B,在双向测距中,节点A基于正交频分多路复用OFDM波形发射测量时隙1,并记录发射时刻,节点B接收测量时隙1,对测量参考信号进行精确的OFDM分数倍符号时偏估计,得到节点B接收测量时隙1的精确时刻;同理,节点B基于OFDM波形发射测量时隙2,并将测量时隙1接收时刻和测量时隙2发射时刻填入MAC头后面的时间戳信息域;节点A接收测量时隙2,对测量参考信号进行精确的OFDM分数倍符号时偏估计,节点A对测量时隙2的数据信道进行解调和MAC数据包解析,利用双向测距原理得到真实距离的测量值。 | ||
搜索关键词: | ofdm 通信 体制 双向 高精度 测距 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所),未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010609940.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种网关系统以及电网系统
- 下一篇:卫星测运控系统地面站免校相跟踪系统