[发明专利]集成电路测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 202010613957.9 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111871865B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 陈戈 | 申请（专利权）人： | 绍兴网策科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯 |
| 地址： | 312030 浙江省绍兴市柯桥区越州大道*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了集成电路测试装置及测试方法。该集成电路测试装置包括：测试机，包括多个测试工位，用于提供多个测试信号以及对多个待测芯片的响应信号进行分析以获得测试结果；以及分选机，包括多个芯片工位，用于放置多个待测芯片，以及根据分选信号对多个待测芯片进行筛选，其中，测试机的多个测试工位经由测试排线与分选机的多个芯片工位相连接，分选机中存储经由测试排线传输的多个芯片工位的工位标识，测试机从分选机获得多个芯片工位的标识回传信号，以及根据测试结果和标识回传信号产生分选信号。该集成电路测试装置允许测试机和分选机之间任意顺序的测试排线连接，即使在大量待测芯片测量的情形也可以避免芯片识别错误。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于绍兴网策科技有限公司，未经绍兴网策科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010613957.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：高频脉冲交流环节逆变器混合调制策略
- 下一篇：一种数控车床自动断屑设备
