[发明专利]一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法有效
| 申请号： | 202010621548.3 | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111965640B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 孙光才;李航;刘文康 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 李园园 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种大斜视中高轨SAR二维波束扫描方法，首先通过雷达成像时间、GPS数据和场景位置得到成像几何参数，结合成像几何和目标分辨率设计得到雷达的最优合成孔径时间和带宽，由雷达的最优合成孔径时间和带宽得到方位波束扫描速率，进而通过场景中心目标的线性距离走动得到离线角变化率，根据方位波束扫描速率和离线角变化率得到俯仰向波束扫描速率，使用成像几何参数中的卫星运动参数和二维波束扫描速率计算得到地面波束足迹速度，根据地面波束足迹速度确定瞬时波束足迹位置，进而确定雷达成像时间内的瞬时波束指向。SAR二维波束扫描方法不仅可以得到所需的方位分辨率，还可以在斜视模式下确定较大的测绘带宽度，或缩短回波长度，减小数据量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 斜视 中高 sar 二维 波束 扫描 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学，未经西安电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010621548.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
