[发明专利]校验算法的测试方法、芯片、存储介质和家用电器在审
| 申请号： | 202010621761.4 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111953354A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 刘凯 | 申请（专利权）人： | 上海美仁半导体有限公司 |
| 主分类号： | H03M13/09 | 分类号： | H03M13/09 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 瞿璨 |
| 地址： | 201615 上海市松江区九*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种校验算法的测试方法、测试装置、存储介质和家用电器，该校验算法的测试方法包括：获取校验参数和输入数据；输入输入数据和校验参数至校验单元，得到校验结果；比对校验结果与标准结果，检测并确认校验结果与标准结果一致，输出测试通过；其中，标准结果基于输入数据和校验参数产生。通过上述方式，能够提高校验算法的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 校验 算法 测试 方法 芯片 存储 介质 家用电器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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