[发明专利]一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202010622174.7 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN111854986A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 虞华康;王春华 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 深圳市壹品专利代理事务所(普通合伙) 44356 代理人: 江文鑫;唐敏
地址: 510630 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种基于少层二维材料的可宽谱段工作的共线型超短脉冲测量装置和测量方法。装置包括:待测脉冲光经过第一分束镜分成两路,经过反射镜和可控延时反射后到达第二分束镜处反射,通过第一聚焦透镜7垂直聚焦到非线性二维材料8上,反射后经相同的第一聚焦透镜后,产生的自相关光学二倍频信号光与其余的光信号具有分离的空间分布特性,利用短波通滤光片可分离出自相关光学二倍频信号光。记录不同时延下的自相关光学二倍频信号光光谱信息,经过FROG算法进行一定的迭代计算后,可还原出待测脉冲完整的信息。通过本发明能避免现有技术对不同的入射波长需要调节不同的入射角度的问题,可对宽波段的超快脉冲进行测量,同时也避免了现有技术中非线性材料厚度导致的脉冲展宽,实现了更精准的超短脉冲测量。
搜索关键词: 一种 基于 二维 材料 可宽谱段 工作 线型 超短 脉冲 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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