[发明专利]一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010623576.9 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN111623876B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 李春来;唐国良;刘世界;徐睿;陈厚瑞;谢佳楠;徐艳;吴兵;王建宇 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/04;G01J3/02
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统及方法,包括主望远镜、视场光阑、S矩阵狭缝阵列、高精度电控位移台、光谱仪组件、视场补偿镜以及数据处理模块。将S矩阵狭缝阵列固定在高精度电控位移台,放置于主望远镜的一次焦面,使用视场光阑控制编码宽度,精确移动实现对面视场三维光谱图像信号的全采样,使用视场补偿镜消除编码过程中的运动模糊,通过数据处理实现空谱三维数据立方体的获取。本发明作为一种典型的计算成像方法,不存在信息丢失的问题,并且具有高通量的特点,特别适用于弱光下或者受限于积分时间的快速曝光成像场景,可搭载于卫星、飞机等具有稳定运动特性的平台开展高光谱遥感应用。
搜索关键词: 一种 基于 矩阵 狭缝 阵列 推扫式高 光谱 成像 系统 方法
【主权项】:
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