[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 202010624015.0 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111784672A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 汤寅航;林国森;张发恩 | 申请（专利权）人： | 创新奇智（上海）科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/956 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 唐正瑜 |
| 地址： | 201900 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法通过获取待测印刷品目标区域的不同角度的待测印刷图片，目标区域中含有待测对象。然后将各待测印刷图片组合得到对应于目标区域的待测平面图，介质获取待测平面图中的待测对象，与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域。在差异区域不为空时，确定待测对象存在缺陷。这样，通过获取待测平面图中的待测对象，与预设的标准底稿图中标准对象之间的差异区域，即可有效实现对于待测对象是否存在缺陷的确定。整个方案实现简单，相对于传统的人工检测方式而言，成本更低、效率高、检测准确度也更高，能够有效适用于工业生产中。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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