[发明专利]一种基于少层二维材料-光纤复合结构的集成超短脉冲测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202010625252.9 申请日: 2020-07-01
公开(公告)号: CN111854987A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 虞华康;王春华 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 深圳市壹品专利代理事务所(普通合伙) 44356 代理人: 江文鑫;唐敏
地址: 510630 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种基于少层二维材料‑光纤复合结构的集成超短脉冲测量装置和测量方法。利用胶带撕得的少层二维材料(单层、双层、三层等)通过干法转移至新切割好的光纤(可以为普通单模光纤、多模光纤、可见光单模光纤等)端面。脉冲测量的装置包括:沿待测脉冲光经过分束镜分成两路,经过反射镜和可控延时反射返回分束镜处合束,通过聚焦透镜汇聚到二维材料‑光纤复合结构的光纤端面,不同时延下产生的自相关光学二倍频信号光沿着光纤传播并被光谱仪收集,对记录的数据(不同时延下的光谱强度)经过FROG算法进行一定的迭代计算后,可还原出待测脉冲完整的信息。
搜索关键词: 一种 基于 二维 材料 光纤 复合 结构 集成 超短 脉冲 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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