[发明专利]一种对粉末或液体样品的正电子湮没谱测试方法有效
| 申请号： | 202010626423.X | 申请日： | 2020-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN111650228B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 尹崇山;何春清;刘其城 | 申请（专利权）人： | 长沙理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22 |
| 代理公司： | 成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙) 51241 | 代理人： | 宋红宾 |
| 地址： | 410114 湖南省长*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供一种对粉末或液体样品的正电子湮没谱测试方法，使用Kapton薄膜将正电子放射物质包裹，形成正电子放射源；用正电子湮没特征已知的膜将正电子放射源包裹住，放置在自封袋内，在自封袋内填入足量的被测样品；正电子源以一定的速率放出正电子，正电子注入被测材料并在材料中湮没；使用闪烁体探头探测正电子的生成光信号以及湮没光信号，然后依次通过恒比定时甄别器、时幅转换器、多道分析器后信息被计算机录入，并最终生成一个包含大量湮没数据的正电子湮没寿命谱。本发明可以测试液体、粉末样品的正电子湮没寿命谱，测试过程不需要压片，不破坏液体、粉末样品的结构，该方法测试时不会有污染、破坏正电子放射源的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粉末 液体 样品 正电子 湮没 测试 方法 | ||
【主权项】：
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