[发明专利]一种基于激光干涉的测压系统在审
申请号: | 202010629764.2 | 申请日: | 2020-07-03 |
公开(公告)号: | CN111811706A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 何立平;湛月;张晓龙;王鹏飞;张芮闻;周砚扬;马乐乐 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司电子科学研究院 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 罗丹 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于激光干涉的测压系统,本发明通过发射装置发出两路激光,一路经弹性测压装置反射给处理器,另一路直接发给处理器,由于弹性测压装置会根据待测体的压力变化进行弹性伸缩变换,使得弹性测压装置反射的激光的光路长度不同,最终处理器会根据上述两路激光检测得到待测体内发出的压力的方向和大小。由于光路的检测更精确,所以本发明可以更准确的检测待测体的压力,从而有效解决现有压力传感器检测压力不精确的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 激光 干涉 系统 | ||
【主权项】:
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