[发明专利]一种多场源电阻率层析成像测量系统和方法在审
| 申请号： | 202010633509.5 | 申请日： | 2020-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN111983696A | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 王一博;冯少孔;郑忆康 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;G01V3/38 |
| 代理公司： | 北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙) 11296 | 代理人： | 王庆彬 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种多场源电阻率层析成像测量系统和方法，该系统包括：场源电极组件，包括多个场源电极，用于向目标区域的目标体输出场源信号；电位电极组件，包括多个电位电极，用于反映场源信号对目标体产生的作用，得到测量信号；电流测量组件，与场源电极组件连接，用于激发场源电极组件输出场源信号；电位测量组件，与电位电极组件连接，用于接收测量信号，并将该测量信号转换为电位信号输出。本发明改善了场源电极和电位电极之间的能量照明度和照明方向，可以使用更少的场源激发次数，在更短的时间完成数据测量，从而极大地提高了工作效率，更好地实现实时监测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多场源 电阻率 层析 成像 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院地质与地球物理研究所，未经中国科学院地质与地球物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010633509.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
