[发明专利]一种测定微尺度装药爆轰波阵面曲率的MEMS压电式传感器有效

专利信息
申请号: 202010635028.8 申请日: 2020-07-04
公开(公告)号: CN111780908B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 赵玉龙;刘元;张国栋;任炜;韦学勇;李慧;余旺;张一中 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01L5/14 分类号: G01L5/14
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贺建斌
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种测定微尺度装药爆轰波阵面曲率的MEMS压电式传感器,包括基底,基底上溅射有下层输出电极及下层焊盘,下层输出电极与下层焊盘通过下层导线连接,构成下层输出层;下层输出层上旋涂并固化形成PVDF‑TrFE薄膜层,对PVDF‑TrFE薄膜层进行硅油浴极化,通过离子刻蚀得到PVDF‑TrFE敏感元件,构成PVDF‑TrFE压电层;PVDF‑TrFE压电层上溅射有上层输出电极及上层焊盘,上层输出电极与上层焊盘通过上层导线连接,构成上层输出层;下、上层输出电极采用上下轴向对齐的布置方式;下、上层焊盘采用由下层导线、上层导线连接并垂直的布置方式;上层输出层上涂覆有保护层;该传感器具有敏感元件尺寸小、精度高、多点采集等特点,适用于多种测试条件下微尺度装药爆轰波阵面曲率的测量。
搜索关键词: 一种 测定 尺度 装药爆轰波阵面 曲率 mems 压电 传感器
【主权项】:
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