[发明专利]一种非侵入式MC/DC覆盖率统计分析方法有效

专利信息
申请号: 202010635114.9 申请日: 2020-07-03
公开(公告)号: CN111813670B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 贾张涛;付修锋;安恒;张玉爽;金玉川;李雅斯 申请(专利权)人: 北京计算机技术及应用研究所
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F8/75
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 张然
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种非侵入式MC/DC覆盖率统计分析方法,其中,包括:建立嵌入式软件虚拟化仿真运行环境;循环读取源码并通过分析去除源码中的注释部分,并解析源文件分支信息和逻辑表达式信息;获取逻辑表达式的目标码信息;仿真运行,读取指令、翻译指令以及执行当前指令,记录MC/DC覆盖率,并将覆盖率信息以特定的格式写入到指定路径的文件中;进行MC/DC覆盖率执行结果判读及反馈。本发明通过嵌入式软件虚拟化仿真运行环境,分析不同处理器架构下目标文件的类型和调试信息格式的类型并解析源文件分支信息和逻辑表达式信息,在此基础上获取逻辑表达式对应的目标码信息,并在仿真运行过程中获取MC/DC覆盖率信息,能够满足多种场景下MC/DC覆盖率统计分析的需求。
搜索关键词: 一种 侵入 mc dc 覆盖率 统计分析 方法
【主权项】:
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