[发明专利]一种环形栅结构的高电子迁移率晶体管有效
申请号: | 202010640079.X | 申请日: | 2020-07-06 |
公开(公告)号: | CN111916491B | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
发明(设计)人: | 吴少兵;张亦斌;陈韬;刘世郑;陈堂胜 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/417;H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 施昊 |
地址: | 210016 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种环形栅结构的高电子迁移率晶体管,包括源极、漏极和栅极,栅极为环形结构,高电子迁移率晶体管包括两种基础结构:第一种基础结构为,源极为圆形结构,漏极为环形结构,且源极位于所述栅极的内圈,漏极位于栅极的外圈,源极和漏极分别与栅极存在间隙;第二种基础结构为,漏极为圆形结构,源极为环形结构,且漏极位于栅极的内圈,源极位于漏极的外圈,源极和漏极分别与栅极存在间隙。本发明通过将栅极由直线型转变为环形结构,使其结构稳定,保障器件的稳定性和低寄生电容。 | ||
搜索关键词: | 一种 环形 结构 电子 迁移率 晶体管 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第五十五研究所,未经中国电子科技集团公司第五十五研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010640079.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类