[发明专利]一种全息光栅扫描光刻曝光量监测装置及调整方法有效

专利信息
申请号: 202010640570.2 申请日: 2020-07-06
公开(公告)号: CN111708258B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 宋莹;张刘;朱杨;赵寰宇;王文华;范国伟;章家保;张帆 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京中理通专利代理事务所(普通合伙) 11633 代理人: 刘慧宇
地址: 130012 吉林*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种全息光栅扫描光刻曝光量监测装置及调整方法,涉及全息光栅制作领域。解决现有全息光栅扫描光刻曝光量工艺参数控制性差,光栅制作效率低,且采用静态监测方法,无法满足使用要求等问题,监测光源发出的监测激光用于曝光量监测,电控光闸控制监控激光入射到潜像光栅上,形成监测光斑;监控激光经由潜像光栅产生一级潜像衍射光,一级潜像衍射光经过滤光片,进入光电探测器;位移速度测量系统获取工作台Y向位移及速度,作为对曝光量进行控制的参数;控制器控制电控光闸的打开和关闭,控制同一触发信号同步采集位移速度测量系统和光电探测器的输出数据。本发明可实现全息光栅扫描光刻过程中曝光量的有效监测,保证曝光量工艺参数可控性。
搜索关键词: 一种 全息 光栅扫描 光刻 曝光 监测 装置 调整 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉林大学,未经吉林大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010640570.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top