[发明专利]RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法在审
| 申请号： | 202010642849.4 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN111950680A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 王学先 | 申请（专利权）人： | 智汇芯联（厦门）微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06K19/077 | 分类号： | G06K19/077;G06K19/10 |
| 代理公司： | 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) 35227 | 代理人： | 吴圳添 |
| 地址： | 361000 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法。所述RFID标签芯片包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述标签识别值的校验码。所述RFID标签芯片能够进行相应的检验，使用户及时确认RFID标签芯片是否可用。 | ||
| 搜索关键词： | rfid 标签 芯片 校验 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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