[发明专利]一种天线增益测量方法在审
| 申请号： | 202010646174.0 | 申请日： | 2020-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN111610381A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 高括;刘会杰;潘小彤;刘磊;程睿;陈晓庆;汪灏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 | 代理人： | 李镝的 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种天线增益测量方法，通过三个待测天线两两配对布置于微波暗室内，然后使用矢量网络分析仪测量对应的S21值，最后通过得到的S21值以及空间损耗值，计算得到各个天线的增益。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 增益 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心，未经中国科学院微小卫星创新研究院;上海微小卫星工程中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010646174.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：数控曲线锯
- 下一篇：农村有机废弃物综合处理分斗式发酵设备及工艺
