[发明专利]高集成型分析物检测器件有效
| 申请号： | 202010646815.2 | 申请日： | 2020-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN113274002B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 杨翠军 | 申请（专利权）人： | 上海移宇科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/145 | 分类号： | A61B5/145 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 陈珊珊 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高集成型分析物检测器件，包括：底壳；传感器，传感器装配于底壳上，传感器包括信号输出端和检测端，信号输出端设置至少两个第一电连接区；发射器，发射器与底壳互相卡合，发射器设置有至少两个与第一电连接区相对应的第二电连接区；和连接件，连接件设置于第一电连接区和第二电连接区之间，连接件包括至少两个导电区和至少一个绝缘区，相邻两个导电区之间设置有绝缘区，不同第一电连接区或者不同第二电连接区分别与不同导电区电连接。这种设计提高了检测器件内部结构的集成度，进一步缩小检测器件的体积，增强用户体验。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 分析 检测 器件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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