[发明专利]一种基于平均值约束的层析反演方法有效

专利信息
申请号: 202010646847.2 申请日: 2020-07-07
公开(公告)号: CN111830582B 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 郭昌放;杨真 申请(专利权)人: 中国矿业大学
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38;G01V3/30
代理公司: 北京淮海知识产权代理事务所(普通合伙) 32205 代理人: 张旭
地址: 221000*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于平均值约束的层析反演方法,先采用无线电波坑透获取工作面的原始数据;将工作面进行网格离散化,每个网格作为一个像素,利用直射线理论获得每条射线在工作面内所有网格的截距;根据原始无线电波坑透数据、网格截距以及直射线理论,构建无线电波层析反演矩阵方程组;通过已知的反演方法结合反演矩阵方程组,求得每个像素的反演吸收系数值;最后将已揭露的多源先验数据作为平均值约束的数据引入到层析反演计算过程中,不断修正得出的每个像素的反演吸收系数值,最终将修正后的数据通过图像显示,从而得出工作面内的异常分布情况。因此本发明能提高反演得出的工作面内异常分布情况的准确性。
搜索关键词: 一种 基于 平均值 约束 层析 反演 方法
【主权项】:
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