[发明专利]一种位姿参数测量方法和装置有效
| 申请号： | 202010647030.7 | 申请日： | 2020-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN111736165B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 吴冠豪;蒋瑞林;周思宇 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01S17/42 | 分类号： | G01S17/42 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种位姿参数测量方法和装置，包括基于双光梳测距系统，分别确定三个基站到被测靶标上三个被测物的绝对距离；根据所述三个基站到所述三个被测物的绝对距离，分别确定所述三个被测物在世界坐标系下的坐标，其中，所述世界坐标系是根据所述三个基站的位置构建得到的；根据所述三个被测物在所述世界坐标系下的坐标，确定所述被测靶标的六自由度位姿参数。基于三个基站到被测靶标上三个被测物的绝对距离来确定被测靶标的六自由度位姿参数，可以使得测量得到的六自由度位姿参数的精确度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 参数 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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