[发明专利]一种三维闪存层间错误率模型及评估方法在审

专利信息
申请号: 202010650473.1 申请日: 2020-07-08
公开(公告)号: CN111863109A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 刘碧贞;吴佳;李礼 申请(专利权)人: 上海威固信息技术股份有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 王文锋
地址: 201702 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种三维闪存层间错误率模型及评估方法。三维闪存以大容量、高性能等特性而被广泛应用于固态硬盘中。但由于工艺制程及物理机理影响,三维闪存在不同层间有明显的可靠性差异,主要表现为随堆叠层的增加其错误率具有特定变化规律。针对三维闪存层间错误率建模,可以更有效地了解闪存特性、优化数据布局,预测数据寿命。本发明对三维闪存层间错误率与编程/擦除次数、数据保存时间、字线编号进行建模。该模型对三维闪存层的错误率进行评估,为数据布局优化、数据寿命预测提供信息,有助于设计更可靠、更长效的闪存存储系统。本发明对固态硬盘可靠性提升、成本降低及相关工业应用具有重大意义。
搜索关键词: 一种 三维 闪存 错误率 模型 评估 方法
【主权项】:
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