[发明专利]一种星载电子元器件的辐照特性的评价方法及评价系统有效
| 申请号： | 202010652260.2 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN111948473B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 刘红民 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 杨青;李彪 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于空间宇航应用的电子元器件的辐照特性检测技术领域，具体涉及一种星载电子元器件的辐照特性的评价方法，该方法包括：获取待评价电子元器件的制造工艺信息，获取待评价电子元器件的工艺结构参数，确定待评价电子元器件的耐辐照数据；采用不同信号源，对待评价电子元器件进行辐照特性测试，得到待评价电子元器件的耐辐照能力；根据待评价电子元器件的耐辐照数据和耐辐照能力，对待评价电子元器件的辐照特性评价。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 辐照 特性 评价 方法 系统 | ||
【主权项】：
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