[发明专利]用于芯片验证的高效回归测试方法在审
| 申请号： | 202010657522.4 | 申请日： | 2020-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN111814415A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 许泽昊;张俊杰;丁杰;夏连城;王森林;蒋云翔 | 申请（专利权）人： | 长沙海格北斗信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308;G06F8/41 |
| 代理公司： | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人： | 周咏;米中业 |
| 地址： | 410000 湖南省长*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于芯片验证的高效回归测试方法，包括建立编译模式队列和仿真用例队列；建立并初始化进程池；采用进程池中的进程并行的执行编译模式队列中的编译任务；采用进程池中的进程并行的执行仿真用例队列中的仿真用例；根据执行结果完成用户芯片验证的高效回归测试。本发明通过并行的执行编译模式队列和仿真用例队列，对仿真用例队列进行仿真参数的简化配置，以及对执行失败的仿真用例再升级仿真参数的方式，使得芯片验证的回归测试过程大大简化，同时也兼顾了异常情况下仿真过程和仿真数据的保存；因此本发明方法的可靠性高、实用性好、占用资源较少且效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 验证 高效 回归 测试 方法 | ||
【主权项】：
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