[发明专利]特征点集对的筛选方法、目标匹配方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202010659291.0 | 申请日： | 2020-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN111881947A | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 朱占建 | 申请（专利权）人： | 广联达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/62 | 分类号： | G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 张琳琳 |
| 地址： | 100193 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及特征点集对的筛选方法、目标匹配方法、装置及电子设备，其中筛选方法包括获取目标构件类型；基于所述目标构件类型，分别从两个待匹配目标中提取所述目标构件类型的图元的特征点，以形成与所述待匹配目标的目标构件类型一一对应的特征点集；按照所述目标构件类型，将两个所述待匹配目标的特征点集组成特征点集对；根据各个所述特征点集对中所述特征点的数量，对所述特征点集对进行筛选以确定目标特征点集对。该方法通过基于构件类型的特征点提取能够消除由于构件类型所带来的客观因素的影响，为特征点集对的筛选提供了可靠保证。 | ||
| 搜索关键词： | 特征 筛选 方法 目标 匹配 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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