[发明专利]基于物理不可克隆函数的错位混淆测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010659858.4 申请日: 2020-07-09
公开(公告)号: CN111783170A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 郭阳;邓丁;屈婉霞;扈啸;胡春媚;侯申 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F21/73 分类号: G06F21/73;G06N3/00
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 周长清
地址: 410073 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明的一种基于物理不可克隆函数的错位混淆测量方法及装置,方法的步骤包括:步骤S1:认证者向被认证者发送1个种子激励C1,单步作差法的下限阈值Sthldlow,双步作差法的上限阈值Dthldup与下限阈值Dthldlow,以及要求返回的响应的有效位数n;步骤S2:被认证者利用所持有PUF中的激励生成器以C1为种子,自动生成后续的激励C2,C3,......,并为该PUF配置Sthldlow、Dthldup、Dthldlow,该PUF默认采用双步作差法产生响应;步骤S3:根据生成响应的有效标志位决定是否丢弃当前测试所得到的响应,同时决定下一个激励的响应的测量方法;步骤S4:当产生完n位有效响应之后,被认证者将所生成的n位响应返回给认证者。该装置基于上述方法实现。本发明具有原理简单、实现性好、操作简便、安全性高等优点。
搜索关键词: 基于 物理 不可 克隆 函数 错位 混淆 测量方法 装置
【主权项】:
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