[发明专利]QTT天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置有效

专利信息
申请号: 202010667313.8 申请日: 2020-07-13
公开(公告)号: CN111664816B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 叶骞;黄剑辉;何志壮 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01B15/06 分类号: G01B15/06
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 崔玥
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置。该检测装置包括:喇叭天线,在被测天线的设定近距近场面上的各网格点处采集被测天线的辐射信号;姿态调整机构,控制喇叭天线的空间姿态,使喇叭天线的喇叭口方向对准被测天线的指向;位置调整机构,控制喇叭天线在设定近距近场面上的位置;支撑机构,对姿态调整机构以及位置调整机构进行支撑。本发明根据喇叭天线采集到的辐射信号确定被测天线在其设定近距近场面上的辐射信号的二维强度分布,根据二维强度分布直接计算天线主反射面的变形。本发明降低了测量的难度以及数据处理的复杂度,能够快速的实现对被测天线主反射面变形的检测,进而实现对被测天线主反射面的快速校正。
搜索关键词: qtt 天线 反射 变形 检测 方法 校正 装置
【主权项】:
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