[发明专利]QTT天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置有效
申请号: | 202010667313.8 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111664816B | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 叶骞;黄剑辉;何志壮 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01B15/06 | 分类号: | G01B15/06 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 崔玥 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种天线主反射面变形检测方法、校正方法及检测装置。该检测装置包括:喇叭天线,在被测天线的设定近距近场面上的各网格点处采集被测天线的辐射信号;姿态调整机构,控制喇叭天线的空间姿态,使喇叭天线的喇叭口方向对准被测天线的指向;位置调整机构,控制喇叭天线在设定近距近场面上的位置;支撑机构,对姿态调整机构以及位置调整机构进行支撑。本发明根据喇叭天线采集到的辐射信号确定被测天线在其设定近距近场面上的辐射信号的二维强度分布,根据二维强度分布直接计算天线主反射面的变形。本发明降低了测量的难度以及数据处理的复杂度,能够快速的实现对被测天线主反射面变形的检测,进而实现对被测天线主反射面的快速校正。 | ||
搜索关键词: | qtt 天线 反射 变形 检测 方法 校正 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010667313.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种饲料储存装置
- 下一篇:一种五金类产品无损检测装置