[发明专利]一种测量光场分布的方法及装置有效
申请号: | 202010667605.1 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111551250B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 傅振海;刘承;陈志明;陈杏藩;李楠;胡慧珠 | 申请(专利权)人: | 之江实验室;浙江大学 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/02;G01J1/04 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 林松海 |
地址: | 311121 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量光场分布的方法及装置。利用光阱稳定悬浮微粒,移动光阱使微粒靠近待测光场,利用光电探测器收集微粒在待测光场的三维空间中不同位置的散射光信号,根据散射光强与该位置的光强成正比解算出待测光场的光场分布。测量光场分布的装置,包括激光器、捕获光路、微粒、光电探测器、控制系统和上位机;激光器出射激光,经过捕获光路,出射高度聚焦的捕获光B,形成光阱,捕获微粒;微粒在待测光场A中的某个位置,散射光C被光电探测器收集;光电探测器将散射光信号上传到上位机;上位机根据不同位置处获取的散射光信号解算出待测光场A的光场分布。本发明可精确获得光场的三维光强分布,将光场测量的空间分辨率提升到纳米量级。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 分布 方法 装置 | ||
【主权项】:
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